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BM8600电路板故障检测仪
硬件系统测试功能化设计,可根据要求扩充测试功能和测试通道,软件系统测试过程流程化设计,可以通过非编程方式实现测试过程流程化:保存流程测试的步骤和数据,形成标准的测试流程,提高排故和测试效率。
BM8500电路板故障测试仪
英国abi_BM8500电路板故障测试仪是一个多功能且易于使用的独立测试系统. 它提供了电路板检测功能, 电路板的检测能力.无论在电路板的设计验证, 生产测试, 半导体器件测试, 生产或是一般维修保养, 以及是否你的电路板是模拟还是数字的电路板, 或者是混合型的电路板.
BM8400电路板故障检测仪
英国abi_BM8400电路板故障检测仪是一台具有丰富测试功能且易于使用的电路板故障检测仪 。BM8400集成了从非加电测试到加电功能测试、仿真测试等多种测试手段,适合对多类型的电路板进行维修检测。
BM8300电路板故障测试仪
英国abi_BM8300电路板故障测试仪配备了测试电路板需的基本功能:数字集成电路、模拟集成电路的功能测试,非加电V-I曲线测试,数字电路板功能测试,电路通断测试等。系统配有电路板检测软件,该软件免费升级,不会收取额外的用户费或维护费用。软件功能强大且易于使用:包括用户访问管理、abi TestFlow管理器。
AT256集成电路测试仪
英国abi_AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;
AT256 A4集成电路测试仪
英国abi_AT256 A4集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)
AT256 A4 pro2集成电路测试仪
英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪:二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:128路集成电路的来料质量控制检测与筛选,一致性检测;快速筛选假冒,仿制集成电路及元器件.
AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪
英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
SWA512集成电路测试仪
英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试.
SWA1024集成电路测试仪
SWA1024集成电路测试仪可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试,二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测
SWA2048集成电路测试仪
SWA2048集成电路测试仪提供二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试
RE2048电路板反求系统
RE2048电路板反求系统:反求过程通过测试夹、连接器、测试钩连接到被测板上的各个器件来实现。System8 Ultimate控制软件将自动指导用户在被反求电路周围放置和移动测试夹具,软件将生成夹具组合次序和夹具移动次序,以便反求到电路板上可能的连接关系。用户也可以修改和重写夹具的自动放置、移动次序。
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