产品的设计初衷,主要用于集成电路管脚阻抗一致性分析和电路板I/O端口阻抗一致性分析

设备外部包装检查和设备内部装箱单核验,面板布局和标准附件和可选配件的介绍

讲解VI曲线的测试原理和优势不同测试条件下对V-I曲线的影响,VIF曲线和VT动态功能

软件安装的注意事项和安装步骤,运行软件确认连接正常,查看自检信息确认通道正常

三维V-I-F测试界面介绍,V-I-F测试界面整体布局,模式选择,测试信号设置和频率的设置

探笔的存储对比和实时对比,自动夹具测试,自动（1 to 1）测试,探笔手动测试

主要讲解VT测试.这个方法是电路板故障检测的重要手段,也是一个非加电测试,可以针对各种三极管,光耦,MOS管等器件进行开关时间特性的功能检测和对比

矩阵测试原理的说明和注意事项,矩阵测试的实测页面,矩阵V-I测试是静态测试

非加电测试手段,非加电测试手段,可以多个设备级联,电路板和元器件测试

硬件系统测试功能化设计，可根据要求扩充测试功能和测试通道,软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的步骤和数据，形成标准的测试流程，提高排故和测试效率。

英国abi-3400电路板故障检测仪可在静态（非加电）条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件，增加设备检测能力, 同时减少测试时间！

英国abi_AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;

英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道：512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；可用于集成电路、元器件研发测试；三维立体动态阻抗测试.