集成电路测试仪
AT256集成电路测试仪
英国abi_AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;
AT256 A4集成电路测试仪
英国abi_AT256 A4集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路)
AT256 A4 pro2集成电路测试仪
英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪:二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:128路集成电路的来料质量控制检测与筛选,一致性检测;快速筛选假冒,仿制集成电路及元器件.
AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪
英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:256路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
SWA512集成电路测试仪
英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试.
SWA1024集成电路测试仪
SWA1024集成电路测试仪可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试,二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测
SWA2048集成电路测试仪
SWA2048集成电路测试仪提供二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试
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BM8500是abi公司针对电路板测试和故障检测设计研发的主力产品.其硬件上采用模块化设计,用户可以根据需要自由选择搭配不同的功能模块,或者扩充测试通道以满足测试需求。产品与技术目前已广泛应用于航空、航天军工、轨道交通、汽车制造、石油、高等教育、医疗、研究所等领域。
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