介绍产品研发的背景和设计初衷,元器件的假冒伪劣识别的讲解,对集成电路的失效分析

英国abi集成电路测试仪AT256培训视频第2讲:讲解集成电路测试仪的设备验收，设备外包装检查；设备内部装箱单核查；设备外观布局和注意事项；标准附件介绍；选配适配座介绍等。

介绍VI曲线的历史起源测试原理,讲解4种常见器件的VI曲线图例,VI曲线的影响要素

软件安装及介绍，安装步骤和注意事项

讲述元件库,封装库,模板库的概念,介绍元件的基本要素,封装类型,模板与测试通道的关系

讲解元件库的管理,AT256软件导入导出,测试数据结果的备份以及慎重使用删除按键

介绍封装库的管理,封装库的新增操作和编辑说明,封装的导入导出和封装库的删除

对模板管理的操作,在模板中选择适合的封装定义测试通道，元件模板管脚的定义

器件学习测试的讲解,新增元件,测试参数和扫描参数的选择,新增元件,理解判别条件

器件对比测试,查看对比测试结果,生成对比测试报告,检查报告生成报告文件

要点总结,确认联机正常,测试前元件资料的准备,封装模板准备好,检查标准曲线,自我对比

操作实例真机演示,新建封装库模板库生成元件对比报告并检查报告生成报告

硬件系统测试功能化设计，可根据要求扩充测试功能和测试通道,软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的步骤和数据，形成标准的测试流程，提高排故和测试效率。

英国abi-3400电路板故障检测仪可在静态（非加电）条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件，增加设备检测能力, 同时减少测试时间！

英国abi_AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;

英国abi_SWA512集成电路测试仪具备二维V-I动态阻抗端口测试通道：512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：512路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；可用于集成电路、元器件研发测试；三维立体动态阻抗测试.