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硬件系统测试功能化设计，可根据要求扩充测试功能和测试通道,软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的步骤和数据，形成标准的测试流程，提高排故和测试效率。

英国abi-3400电路板故障检测仪可在静态（非加电）条件下分析器件及整板测试。采用三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件，增加设备检测能力, 同时减少测试时间！

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:64路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64路（可扩充至2048路）

SWA1024集成电路测试仪可用于集成电路、元器件研发测试；三维立体动态阻抗测试，二维V-I动态阻抗端口测试通道：1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：1024路;集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测